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2018 - 02 - 09
如今很多行业都需要使用元素分析仪来检测物质中所存在的各类元素含量成份,所以就需要面对选购设备仪器的难题。为了能在琳琅满目的设备里挑选到优质产品,最好能选择到正规且供应价格低服务好的元素分析仪厂商,然后从功能使用上入手做分析并参考以下小编所总结的几点来进行购买:第1:要选择正规厂家的设备首先用户要选择正规且专业生产元素分析仪的厂家进行购买设备,专业制造的厂家不仅在设计上更合理在功能表现上也更突出,而且设备种类丰富能满足到各不同领域用户的检测需求。并且正规厂家的元素分析仪经过相关检测部门重重把关不但在质量有保障价格也更合理。第2:设备能检测的范围另外元素分析仪能检测的范围也是在购买时很重要的一项因素,例如在不同领域所检测的元素都会各不相同,所以设备的功能表现越全面能检测的元素类别越多才更好。所以用户在选择设备时就要经过全面的检测试用以确定好功能。第3:设备的售后保障元素分析仪是一款精密度极高的设备仪器,所以在购买时要了解到设备有无国家相关认证标志,包括设备所能享受的售后管理服务项目。这些能保障用户在后续使用中没有后顾之忧也能在质量上有更可靠的保障。通过以上相关内容阐述,希望可以为大家在选购好的元素分析仪时有一定的帮助。小编建议用户还可以让专业人士陪同进行分析鉴别设备的质量,以便能从琳琅满目的设备中选择出价格优惠、质量领先的元素分析仪,才能在长期的使用中发挥出举足轻重的作用。
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2018 - 06 - 13
随着化工领域的高速化发展,应运而生的元素分析仪成为众多工厂青睐的对象,那么元素分析到底有何魔力而如此受欢迎呢?不得不从它的特点出发,一一分析它能带来的市场效益,毕竟一台高质量的元素分析仪需要付出的购买费用并非及其高昂的,它的高性价比和高实用性达到了业内难以企及的标准。一、精确度极高的检测结果元素分析仪使用的是先进的控制电极,可靠的数据就出自于此,另外因为它在领域内的普及度,针对它的研发工作从未间断过,由电脑全程控制的操作系统和显示面板,避免人为操纵的不可靠性,内置的电子天平还可根据分析需要对材料的体积随时测量。二、强大而专业的数据存储系统价格适中的元素分析仪每一次的检测都会出具大量的元素分析结果,其初始的编程系统里特意留有容量巨大的数据库,专门为存储各项检验的数据结果而设置,如果日后想调出历史数据来查看,可自定义检索的选项,在最短时间内完成查找的过程。三、便捷的操作模式作为精度相当高的元素分析仪操作起来却并不复杂,尤其为满足用户们的多元化需求,操作系统的可视面板以最通俗易懂的形式呈现,编程的语言不会过于生涩难懂,可自动实现零点和满度的随时追踪,解决了用户的后顾之忧,也扩大了仪器的使用范围。要说到元素分析仪一般多少钱,其价格区间为普遍大众可容纳的范围内,正是由于它不太高的价格和功能的多样化,才大大提升了元素分析仪的应用率。从它所匹配的三大优势而言,可知道它能精准的检测出元素的占比,和...
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2018 - 08 - 15
膜厚仪能够对各种物体的厚度进行测量,而且不仅操作非常方便还具有非常好的稳定性,能够确保测量的数据误差性非常小,所以在生产的过程中对品质的控制是很有利的。因此,现在价格适中的膜厚仪已经被广泛应用到化工行业、商检行业以及金属加工等行业当中。那么在使用膜厚仪之前需要做好哪些准备工作呢? 1.检查电源在使用膜厚仪对各种物品进行厚度测量的时候需要提前先检查一下设备的电源,因为膜厚仪使用的是碱性电池,所以需要开机察看一下电池是否电量充足,如果开机后没有任何显示或者显示将要自动关机说明电池没电应该立即更换一组新电池。如果没有电压指示则意味着电量充足。2.选择探头膜厚仪可以安装多种不同的探头来使用,因为每一种探头适合的检测材料和范围都是不一样的,如果选择的探头和被检测物品的材料不相符那么就无法准确的对物品厚度进行检测,所以,在需要对物品进行厚度检测的时候要提前根据物品的材质选择合适的探头。3.校准仪器为了提高物品厚度的检测准确性,在开始检测之前要应在测量现场对膜厚仪进行一次校准,可以根据实际情况采用零点校准、二点校准、喷沙表面上校准等方法。等膜厚仪校准完成之后再准备需要进行厚度测量的物品。以上为大家介绍的这三件事情就是准备使用膜厚仪对物品进行检测之前应该做的事情,因为,既然需要对物品进行厚度测量,就说明该工序对物品的厚度要求非常高,所以在使用价格优惠、质量领先的膜厚仪进行测量之前一定要做好各个方面...
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产品名称:

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

上市日期: 2017-05-06

E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。

产品类别: E3-3D:三维定位镀层测厚仪器
  • 产品特点
  • 硬件配置
  • 仪器规格
  • 应用领域

1.1全自动三维样品台

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.2 X射线向下照射式,激光对焦

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.3小光斑设计

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.4测试时间灵活性调节

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.5多规格样品仓

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.6 X-Ray探测器

HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器,其先进的半导体制冷技术,高峰背比(信噪比),超高计数率,优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点,超越其他品牌或同品牌的组装探测器

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

探测器

● 类型:X123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● 最佳分辨率:145eV

●信号处理系统:DP5


X射线管

●电压:0-50v

●最大电流;2mA

●最大功率:50W

●靶材:Mo

●Be窗厚度:0.2mm

●使用寿命:大于2w小时


高压电源

●输出电压:0-50Kv

●灯丝电流0-2mA

●最大功率:50w

●纹波系数:0.1%(p-p值)

●8小时稳定性:0.05%


摄像头

●焦距:微焦距

●驱动:免驱动

●像素:500万像素


准直器、滤光片

●系统:快拆卸准直器、滤光片系统

●材质:多种材质准直器

●光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选


十字激光头

●光斑形状:十字线

●输出波长:红光650nm

●光学透镜:玻璃透镜

●尺寸:Φ10×30mm

●发散角度:0.1-2mrad

●工作电压:DC 5V

●输出功率:<5mW

●工作温度:-10~50℃


其它配件

●开关电源:进口高性能开关电源

●散热风扇:进口低噪声、大风量风扇

● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)

● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)

● 仪器重量:50kg

● 供电电源:AC220V/ 50Hz

● 最大功率:330W

● 工作温度:15-30℃

● 相对湿度:≤85%,不结露

● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。

● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。

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