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2018 - 01 - 30
众所周知化学分析仪器的水平直接决定了国家科研技术和工业发展的能力,而近些年来我国化工领域的不断扩展也使化学分析仪器获得了更好的发展。我国科学领域的基础研究和工业应用都离不开各种优质的元素分析仪,因此该设备需要随着我国经济发展的趋势进行调整升级,下文笔者便为大家分析元素分析仪未来发展变化趋势如何。1.所能分析检测的领域越发全面。现如今市面上供应价格低服务好的元素分析仪商家在进行产品生产与研发时,根据市面上已知的元素类型增多调整设备的检测性能。因此在未来的发展之中元素分析仪将用于检测更多材料之中的基本元素,而应用领域的增加也使元素分析仪所能够检测的领域越发广阔。2.检测设备抗干扰能力逐渐增强。在未来的发展变化之中供应质量好,价格低的元素分析仪商家在进行产品研发与生产之中会注意该设备的使用范围及抗干扰能力,在一些特定的场合之下使用需要注意该设备是否能够保持正常运转,因此在未来的发展要求之下元素分析仪必然会呈现更好的抗电磁干扰性能。3.获得更好的便携性。在未来发展之中元素分析仪需要快速的检测出相关的成分和精度,而在一些特定的环境之下无法搬运物品则需要保证元素分析仪拥有良好的便携性,因此在这种需求之下未来元素分析仪必然会逐渐精简机构实现更好的移动性。以上便是元素分析仪未来发展变化的趋势,而优质的元素分析仪在我国化学元素分析领域之中展现了其非凡的效果。而这种优质的元素分析仪应用会随着我国科研技...
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2018 - 04 - 20
直读光谱仪是一种最新的光谱仪类型,被广泛应用于铸造、钢铁、金属回收、航天航空、电力、化工、质检等单位中。用户在操作直读光谱仪时需要掌握一定的注意事项,可以更好的使用直读光谱仪。那么下面就向大家介绍一些使用直读光谱仪常见的注意事项。1.直读光谱仪实用工作曲线的确定根据工厂冶炼情况,合金元素的含量范围不同,为确保分析精密度,须采用不同钢种标钢分别制作工作曲线。做光谱仪工作曲线的标钢数量首先应该满足分析合金的需要。由于分析试样是从炉中快速取样,与标准样品的组织结构、冶金履历不一致,为了消除可能产生的偏高或偏低的系统误差,可采用控制试样法,并通过分析试样的组织结构和冶金履历一致的控制试样来校正光谱仪实用工作曲线的上下平移,减少系统误差。2.直读光谱仪分析试样操作在光谱仪分析试样经过切割以后,要磨去表面氧化层。用研磨机磨样时,试样和标钢要同时操作,要力求操作一致,避免因用力过大引起的表面氧化。同时磨纹要求一致,不应有交叉纹。光谱仪试样磨后因避免因放置过长,造成的试料表面氧化问题。一般可采用软硬适宜的砂轮片进行磨样,此外也可用砂纸或砂轮磨样。除了上面提到的两点技术操作过程中值得注意的事项外,日常使用直读光谱仪最基本的还是应该按照仪器的使用和管理规范进行定期保养,其中主要的项目包含对直读光谱仪外面的润滑、清洁、紧固以及外观检查等等。除了以上几点,选购品牌好,信誉好的光谱仪也很重要,相信这样就能够...
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2018 - 07 - 24
光谱仪是一种非常精密性的测量仪器而且可以测量各种不同的波长及能量元素,并且在测量过程中能以少量的样本就能快速的进行各种不同物品的精准检。深受欢迎的光谱仪能将复染的光分解为光谱线为用户提供各种有效的数据信息,特别是在空气污染或食品卫生及金属行业使用非常多,想要光谱仪在检测过程中有效检测出相关元素就需要注意以下相关事项:第1:注意控制好室温在使用光谱仪进行检测的过程中要控制好机房内的室温,以为仪器的顺利进行检测提供良好的室内温度条件,以免光谱仪在使用过程中出现各种异常现象并且长期温度条件不适还会造成设备的损坏,并且还要保持室内在恒温的状态不能忽冷忽热就容易导致光谱仪操作失误。第2:注意不能连续长时间的检测光谱仪在使用过程中不能长时间的进行工作在使用一段时间后要注意关电进行“休息”,只有光谱仪温度达到稳定状态才能正常读取数据进行检测,长时间持续工作会导致仪器发热出现数据读取不稳或不准的现象。因此要控制好所使用的时间不能长时间不间断的进行检测使用。第3:注意有效的防尘防震光谱仪是精密性使用仪器因此外界环境也会对其的精确分析操作有一定的影响,因此在使用过程中用户要注意有效的防尘并在震动性少的环境的使用,特别是在长期不用的情况下要注意有效的防尘防水或防震。第4:注意及时更换氩气在使用过程中一定要监控好氩气的使用情况,一旦出现各种检测异常或出现激发声音及激发斑点时就要注意,并及时的进行更换新的氩...
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E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

上市日期: 2017-05-06

E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。

产品类别: E3-3D:三维定位镀层测厚仪器
  • 产品特点
  • 硬件配置
  • 仪器规格
  • 应用领域

1.1全自动三维样品台

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.2 X射线向下照射式,激光对焦

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.3小光斑设计

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.4测试时间灵活性调节

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.5多规格样品仓

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.6 X-Ray探测器

HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器,其先进的半导体制冷技术,高峰背比(信噪比),超高计数率,优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点,超越其他品牌或同品牌的组装探测器

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

探测器

● 类型:X123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● 最佳分辨率:145eV

●信号处理系统:DP5


X射线管

●电压:0-50v

●最大电流;2mA

●最大功率:50W

●靶材:Mo

●Be窗厚度:0.2mm

●使用寿命:大于2w小时


高压电源

●输出电压:0-50Kv

●灯丝电流0-2mA

●最大功率:50w

●纹波系数:0.1%(p-p值)

●8小时稳定性:0.05%


摄像头

●焦距:微焦距

●驱动:免驱动

●像素:800万像素


准直器、滤光片

●系统:快拆卸准直器、滤光片系统

●材质:多种材质准直器

●光斑:光斑大小Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选


十字激光头

●光斑形状:十字线

●输出波长:红光650nm

●光学透镜:玻璃透镜

●尺寸:Φ10×30mm

●发散角度:0.1-2mrad

●工作电压:DC 5V

●输出功率:<5mW

●工作温度:-10~50℃


其它配件

●开关电源:进口高性能开关电源

●散热风扇:进口低噪声、大风量风扇

● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)

● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)

● 仪器重量:50kg

● 供电电源:AC220V/ 50Hz

● 最大功率:330W

● 工作温度:15-30℃

● 相对湿度:≤85%,不结露

● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。

● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。

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