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2018 - 03 - 09
近几年来,随着工艺工业要求的普遍提高,元素分析仪的身影开始广泛的出现在大众的视野当中,元素分析仪自身带有的高科技性能,也让其在短时间内大受好评,那么究竟什么样的价格适中的元素分析仪是值得大众选购的呢?1、操作简单,功能强大的元素分析仪:元素分析仪的系统由电脑控制,可完成绝大多数金属材料中元素的含量测定。系统程序的编制采用目前时尚的可视化编程语言,因此系统的功能强大,界面友好,系统的操作简单快捷。而且元素分析仪的系统在分析过程中,能够实现零点和满度自动跟踪,并且由电脑进行辅助定标,可以完全保证元素分析仪的测量精度。2、高效的元素分析仪:元素分析仪配备电子天平,实现了分析过程的不定量称样,因此这样便可以提高整个系统的分析速度,在实际情况的运用中可以极大的缩短分析时间,提高效率。3、可靠、满足实际需求的元素分析仪:元素分析仪的测试软件功能齐全,能完全替代传统化验室的各项手工书写工作,并可根据各单位实际需求,任意设置检测报告格式,并可输入任意检测条件查询历史数据。并且元素分析仪也拥有着专利技术的控制电极,通过这样的技术可以有效确保了元素分析仪工作程序的可靠性,大大提高工作的正确率。以上的关于究竟什么样的元素分析仪是值得大众选购的答案便是如此,由于它可以完全实现品牌电脑的微机控制,并且拥有全中文菜单式操作,方便工作人员的平时使用,也可以满足冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等方面对...
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2018 - 06 - 21
鉴别厚度实现精准的生产是塑料薄膜生产厂家尤为注重的事项,而为了保证更加统一的厚度,在塑料薄膜的生产之中均会使用膜厚仪来精准的检测被测物质的厚度,特别是在自动化生产加工领域之中,这种膜厚仪的应用很大程度上提高了薄膜厚度的稳定性也更好的帮助该种生产厂家提高了加工效率,而现今我国市面上所畅销的这种膜厚仪大都具备如下几种特点。1. 分析方式先进,测量范围广阔为了保证更加精准的分析效果和更快捷的测量速度,我国价格适中的膜厚仪采用了先进的反射率光谱分析方法来作为测量的基础,并且运用了微电脑控制的基准测量方法提高了测量的实际效果,而这种膜厚仪由于这种高效的测量方法对其他的片状材料也有着更好的测量效果,因此膜厚仪现如今的应用功效已经实现了更大范围的扩展;2. 测量数据的控制效果更加专业数据的统计和计算的结果对生产有着一定的指导作用,我国供应价格低服务好的膜厚仪商家,在进行产品研发时提供了专业的显示数据和打印效果,能够将数据测量的相关内容实现精准的显示,并且为后续的生产带来更好的参考,而这种膜厚仪设备也能够连接微型打印机实现数据的采集和处理,保证更好的利用效果也能够将实际测量的数据得以保存;综上所述膜厚仪产品具备着其自身最独特的优势,无论是其功用特点还是测量参数的各个方面都有着明显的独特之处,而相关商家在进行薄膜生产时可以通过了解这种膜厚仪设备的性能和特色,选择专业可信的膜厚仪产品来测量更加精准的数...
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2018 - 08 - 23
卤素检测仪是一种适用于各类产品的水分快速测定仪,专业放心的卤素检测仪采用的是高效率的环状卤素灯,可实现对样品快速、均匀的加热并可实现样品水分的快速烘干,整个过程全自动化尽显,一改传统检测仪器的弊端,是一款可实现高效率工作与检测的精密仪器,那么质量好价格低的卤素检测仪都有哪些特点呢?一、采用环形卤素等,尽享快速高效卤素检测仪采用的是高端的环形卤素灯加热方式,寿命可达两千到三千个小时,相对于红外加热卤素灯,其加热方式具有寿命长、加热快以及产品受热均匀等特点,是一种高效快速且经久耐用的检测设备。二、双层玻璃设计,加热更均匀卤素检测仪采用的是双层玻璃设计,这种设计可保证产品加热均匀,同时避免测量数据的误差,整块玻璃作为加热源不仅增大了热源面积,还使得加热更加均匀柔和,不会因为靠近卤素灯而使得周围温度偏高,从而影响检测的准确性。三、内外双层保护,可杜绝外部因素的干扰卤素检测仪采用的是外壳加内部防风盘的内外双层保护,这可保证卤素检测仪的质量和使用寿命,还可有效屏蔽外部环境的干扰,最大限度地保证测试结果的“纯洁度”。四、免耗材,省钱又环保卤素检测仪采用的是可多次重复使用的不锈钢盘,这不仅为用户节省了开支,还免去了后续购买耗材的费用和周折,同时也体现了经济环保的理念。五、不锈钢材质,清洁更方便卤素检测仪的测试台采用的是不锈钢材质,这就使得清洁仪器的方便性大大提高,只需用纸巾进行擦拭便可完成清洁工作...
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E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

上市日期: 2017-05-06

E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。

产品类别: E3-3D:三维定位镀层测厚仪器
  • 产品特点
  • 硬件配置
  • 仪器规格
  • 应用领域

1.1全自动三维样品台

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.2 X射线向下照射式,激光对焦

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.3小光斑设计

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.4测试时间灵活性调节

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.5多规格样品仓

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.6 X-Ray探测器

HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器,其先进的半导体制冷技术,高峰背比(信噪比),超高计数率,优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点,超越其他品牌或同品牌的组装探测器

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

探测器

● 类型:X123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● 最佳分辨率:145eV

●信号处理系统:DP5


X射线管

●电压:0-50v

●最大电流;2mA

●最大功率:50W

●靶材:Mo

●Be窗厚度:0.2mm

●使用寿命:大于2w小时


高压电源

●输出电压:0-50Kv

●灯丝电流0-2mA

●最大功率:50w

●纹波系数:0.1%(p-p值)

●8小时稳定性:0.05%


摄像头

●焦距:微焦距

●驱动:免驱动

●像素:800万像素


准直器、滤光片

●系统:快拆卸准直器、滤光片系统

●材质:多种材质准直器

●光斑:光斑大小Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选


十字激光头

●光斑形状:十字线

●输出波长:红光650nm

●光学透镜:玻璃透镜

●尺寸:Φ10×30mm

●发散角度:0.1-2mrad

●工作电压:DC 5V

●输出功率:<5mW

●工作温度:-10~50℃


其它配件

●开关电源:进口高性能开关电源

●散热风扇:进口低噪声、大风量风扇

● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)

● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)

● 仪器重量:50kg

● 供电电源:AC220V/ 50Hz

● 最大功率:330W

● 工作温度:15-30℃

● 相对湿度:≤85%,不结露

● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。

● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。

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