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2018 - 04 - 04
科技发展导致了工业发展的长足进步,伴随着行业发展的历史演进,膜厚仪这种专业测量器械的适用范围也在逐步扩大。如何在错综复杂的行业市场中“稳、准、狠”的选购出心仪的膜厚仪呢?下面这些极具参考价值的意见或许能够为您在重重迷雾中辟出一条清晰的道路。根据性能判断日趋成熟的膜厚仪制造市场可提供满足客户不同需求的多种类膜厚仪,从便捷程度上说,它分为便携式和台式两种;根据检测产品的迥异,它又提供磁感型、电涡流型及荧光X射线型等多重选择,用户可以按照自身需求“量体裁衣”,具体选择。根据品牌遴选市面上膜厚仪的生产厂家众多,面对五花八门的产品及各抒己见的厂家,许多消费者往往无从下手,此时,根据相关品牌来遴选合心意的产品是不错的选择。若进行市场调查,会发现不少厂家都会供应价格低服务好的膜厚仪,据此,消费者便可根据圈定的范围来进一步细化区分,从而选出质量上乘、信誉可靠的膜厚仪。根据价格定位无论购买何种产品,与消费者切身利益息息相关的价格一定是关注的重头戏之一。市面上膜厚仪的价格走向千差万别,虽然“一分钱一分货”被誉为买卖市场的铁律,但也不乏供应质量好,价格低的膜厚仪的良心厂家。消费者首先要有一个心理定位,如何根据定位来抉择,相对而言,寻求到可心膜厚仪的占比也会大大提高。无论是从性能入手,还是按品牌抉择,消费者都需在购买之前做好相关功课,做到胸中有数,并时刻关注市场走向和行业发展动态。只有知己知彼,才能在林立...
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2018 - 06 - 29
人类社会的发展可以说就是对现有物质的不断研究以及对未知物质的探索而不断前进的,而元素分析仪这样的设备就是显然人对生产以及相关研究的一个缩影,在一些一起制造厂家的努力下人们对于元素分析仪价钱如何的关注也得到了满意的反馈。供应价格低服务好的元素分析仪也是他们的立业宗旨。那么元素分析仪厂家是如何保证产品质量的?第一、努力专研保证核心技术的先进性首先元素分析仪的优秀厂家会在其产品的核心技术上保持努力专研的态度,秉承求真务实宗旨的他们多年如一日地奋斗在更好的元素分析仪的技术开发上面。同时他们也很善于和优秀同行交流学习共同提升的工作。第二、广纳贤才组建顶级研发生产团队然后元素分析仪会在基础从业人员方面以广纳贤才的方式来吸纳各个岗位最顶级的专家,这让元素分析仪厂家的每一款仪器都是基于强大的技术支持和经验支持上的,而也正是这个强大的团队组成了元素分析仪品牌商的坚实后盾。第三、与客户保持良好沟通追踪实际体验另外元素分析仪厂家会积极与客户建立良好的沟通模式,从客服系统的建立优化以及对服务意识的培训提升,都让元素分析仪厂家的市场口碑一直保持在极高的水平上。当然这个行为也让元素分析仪厂商能够掌握一手的体验信息来不断完善品质。综合起来说元素分析仪的厂家为保证产品品质而付出了很多的努力,他们不但会努力互赞眼以保持核心仪器制造技术的先进性,还会广纳贤才组建顶级的研发生产团队作为品质开发的中坚力量,最后元素分析仪...
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2018 - 08 - 30
随着精密分析仪器研发技术的不断改良,X荧光光谱仪应用领域越来越广泛,这是因为其突出的优势已经受到越来越多用户的认可和喜爱,通过对多家质量好价格低的X荧光光谱仪品牌厂家调研,此类分析仪器的突出优势主要包括以下三方面:1. 效率高X荧光光谱仪因为采取X荧光进行分析检测,所以在生产分析测定时,分析速度非常快,光谱仪测定用时与操作人员设定的精密度息息相关,但即便精密度设置较高用时也不长,基本上5分钟之内能对样品中要求分析测定的数据检测完毕。2.非破坏分析由于X荧光光谱仪分析样品采用的是物理方法,所以在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。 而且光谱仪在检测时对同族化学元素的样品也可正常进行分析。3.取样简单、分析结果更加精准X荧光光谱仪最大优势就是减少操作环节,取样简便但检测结果却更精准。在进行样品检测时,所需样品取样非常简便,无论样品是固态、液态还是粉末状,均可使用光谱仪下进行分析检测,并且样品分析的结果精密度较其他检测仪器更高,现阶段对于样品含量检测已可达到ppm级。正是由于X荧光光谱仪具备取样简单、检测结果精密度更高、采用物理性分析方法,不会破坏样品化学结构以及测量速度更加迅捷的三大突出优势,再加上近年来技术的不断改良,使得X荧光光谱仪价钱低、品质却更好,所以其应用的领域和适用范围才愈加宽泛。X荧光光谱仪凭借自身突出的优势正不断得...
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E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

上市日期: 2017-05-06

E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。

产品类别: E3-3D:三维定位镀层测厚仪器
  • 产品特点
  • 硬件配置
  • 仪器规格
  • 应用领域

1.1全自动三维样品台

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.2 X射线向下照射式,激光对焦

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.3小光斑设计

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.4测试时间灵活性调节

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.5多规格样品仓

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器


1.6 X-Ray探测器

HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器,其先进的半导体制冷技术,高峰背比(信噪比),超高计数率,优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点,超越其他品牌或同品牌的组装探测器

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

探测器

● 类型:X123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● 最佳分辨率:145eV

●信号处理系统:DP5


X射线管

●电压:0-50v

●最大电流;2mA

●最大功率:50W

●靶材:Mo

●Be窗厚度:0.2mm

●使用寿命:大于2w小时


高压电源

●输出电压:0-50Kv

●灯丝电流0-2mA

●最大功率:50w

●纹波系数:0.1%(p-p值)

●8小时稳定性:0.05%


摄像头

●焦距:微焦距

●驱动:免驱动

●像素:800万像素


准直器、滤光片

●系统:快拆卸准直器、滤光片系统

●材质:多种材质准直器

●光斑:光斑大小Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选


十字激光头

●光斑形状:十字线

●输出波长:红光650nm

●光学透镜:玻璃透镜

●尺寸:Φ10×30mm

●发散角度:0.1-2mrad

●工作电压:DC 5V

●输出功率:<5mW

●工作温度:-10~50℃


其它配件

●开关电源:进口高性能开关电源

●散热风扇:进口低噪声、大风量风扇

● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)

● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)

● 仪器重量:50kg

● 供电电源:AC220V/ 50Hz

● 最大功率:330W

● 工作温度:15-30℃

● 相对湿度:≤85%,不结露

● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。

● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。

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