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E3-3D：三维定位镀层测厚仪器

1.1全自动三维样品台1.2 X射线向下照射式，激光对焦1.3小光斑设计1.4测试时间灵活性调节1.5多规格样品仓1.6 X-Ray探测器HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器，其先进的半导体制冷技术，高峰背比（信噪比），超高计数率，优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点，超越其他品牌或同品牌的组装探测器。

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