专业的镀层测厚仪器HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)，与普通EDXRF相比，分辨率高，其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;E8-SPR采用小光斑设计，多种工作模型供选择，测试数据更精确，更稳定。

E8-SPR的测试功能非常广泛，它除了基本的ROHS功能以外，还具备测试合金分析、镀层测厚分析等等，三种功能一机就能实现，其主要功能如下：

1. 镀层分析：各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析；镀层元素含量分析；

2. RoHS /ELV指令测试元素：Pb（铅）、Cd（镉）、Hg（汞）、Cr（铬）、Br（溴）

3. 无卤检测：测试元素：Br（溴）、Cl（氯）；

4. 合金分析：钢铁、铜类、锌类等成分分析。

E8-SPR它的软件功能以及配置更强大：

1. 软件配备三种软件算法，根据不同材质配置

2. 自主研发高低能量独立算法，有效提高低能元素分辨率

3. 探测器采用美国原装进口探测器，测试更精准！

4. 超短光路设计:提高无卤检测分辨率，提高样品分析效率

HeLeeX E8-SPR是一款高性能能量色散型X射线荧光光谱仪，具备高分辨率与高稳定性，核心部件及算法源自美国先进技术。该仪器支持镀层测厚、RoHS检测、无卤分析及合金成分分析等多种功能，适用于多种基材的镀层元素（如Au、Ag、Cu、Ni等）厚度与含量检测，同时可测试Pb、Cd、Hg、Cr、Br、Cl等有害物质。配备小光斑与超短光路设计，提升测试精度与效率，满足多行业材料分析需求。